廠家UM-4DL超大容量穿透涂層超聲波測(cè)厚儀價(jià)格
上海雙旭UM-4DL超大容量穿透涂層超聲波測(cè)厚儀
產(chǎn)品概述
UM-4DL是上海雙旭電子有限公司生產(chǎn)的一款高性能、超大容量穿透涂層超聲波測(cè)厚儀。該儀器專為無需去除表面涂層即可直接測(cè)量基材厚度的應(yīng)用場(chǎng)景設(shè)計(jì)，顯著提高工作效率。
核心產(chǎn)品參數(shù)
- 測(cè)量原理：超聲波脈沖回波
- 顯示分辨率：0.01mm / 0.001in
- 測(cè)量范圍：0.65mm ~ 500mm（鋼，取決于探頭和材料）
- 穿透涂層能力：可穿透油漆、防腐層等涂層，直接測(cè)量金屬基材厚度。
- 聲速范圍：500 ~ 9999 m/s
- 存儲(chǔ)容量：超大容量，可存儲(chǔ)數(shù)萬組測(cè)量數(shù)據(jù)（具體數(shù)量依型號(hào)版本而定）。
- 探頭類型：標(biāo)配或可選雙晶探頭，適用于粗糙表面和涂層穿透。
- 工作頻率：探頭頻率通常為5MHz，具體依配置而定。
- 電源：AA電池或可充電鋰電池。
- 顯示：高對(duì)比度LCD顯示屏，帶背光。
- 接口：可能配備USB或RS232接口，用于數(shù)據(jù)導(dǎo)出。
- 外殼：工程塑料外殼，具有一定的防油、防塵能力。
使用注意事項(xiàng)
- 校準(zhǔn)至關(guān)重要：使用前必須根據(jù)被測(cè)基材的聲速和探頭進(jìn)行精確校準(zhǔn)。測(cè)量帶涂層工件時(shí)，通常需要使用“兩點(diǎn)校準(zhǔn)”法（在已知厚度的無涂層基材和已知總厚度的帶涂層樣塊上校準(zhǔn)）。
- 涂層限制：穿透涂層功能對(duì)涂層的厚度、類型和均勻性有要求。過厚、不均勻或含有金屬顆粒的涂層可能導(dǎo)致測(cè)量失敗或誤差增大。
- 表面處理：測(cè)量點(diǎn)需打磨至涂層與基材結(jié)合緊密、表面平整。粗糙的涂層表面會(huì)影響聲波耦合，需使用耦合劑。
- 探頭選擇與耦合：必須使用專用的雙晶探頭（分割探頭）。測(cè)量時(shí)需使用足量耦合劑（如甘油、耦合膏），確保探頭、涂層與工件表面良好接觸。
- 材料與溫度影響：材料聲速會(huì)隨溫度變化。對(duì)于高溫工件或非標(biāo)準(zhǔn)材料，需設(shè)定準(zhǔn)確的聲速或進(jìn)行溫度補(bǔ)償。儀器標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)通常針對(duì)常溫（約20°C）。
- 基材要求：被測(cè)基材（如金屬）組織應(yīng)均勻致密，內(nèi)部無大量缺陷（如氣孔、夾渣），否則回波信號(hào)不穩(wěn)定，影響精度。
- 邊緣與曲率影響：避免在工件邊緣、劇烈彎曲或形狀不規(guī)則的區(qū)域測(cè)量，這些位置易產(chǎn)生干擾回波。
- 數(shù)據(jù)驗(yàn)證：對(duì)于關(guān)鍵測(cè)量，建議在可疑點(diǎn)多次測(cè)量取平均值，或在局部去除涂層后進(jìn)行驗(yàn)證測(cè)量，以確認(rèn)穿透涂層測(cè)量模式的準(zhǔn)確性。
- 電池與維護(hù)：長(zhǎng)期不使用應(yīng)取出電池。保持探頭和儀器清潔干燥，避免摔落和撞擊。
價(jià)格說明
UM-4DL超聲波測(cè)厚儀的具體價(jià)格因配置（如探頭類型、是否含數(shù)據(jù)線、軟件）、采購渠道及市場(chǎng)波動(dòng)而有所不同。通常，具備穿透涂層功能的高端型號(hào)價(jià)格高于普通測(cè)厚儀。如需獲取精確報(bào)價(jià)，請(qǐng)直接聯(lián)系上海雙旭電子有限公司或其授權(quán)經(jīng)銷商。 |
