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上海雙旭UM-1D穿透涂層測(cè)厚儀參數(shù)介紹

產(chǎn)品參數(shù)

• 測(cè)量原理：磁感應(yīng)/渦流
• 測(cè)量模式：穿透涂層模式（可測(cè)量帶漆、鍍層等非導(dǎo)電覆蓋層下的基體金屬厚度）
• 測(cè)量范圍：通常為0~10mm（具體視探頭和基材而定）
• 顯示分辨率：0.1μm / 0.01mm
• 測(cè)量精度：±(1~3%H+1μm)（H為測(cè)量值，具體精度取決于工況）
• 探頭類型：一體式或分體式雙功能探頭
• 基材類型：鐵基（磁性法）/ 非鐵基（渦流法）
• 校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)、已知厚度片校準(zhǔn)
• 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通常具備數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與統(tǒng)計(jì)功能
• 電源：AA電池或可充電鋰電池
• 顯示：LCD數(shù)字顯示，帶背光
• 工作溫度：-10℃ ~ +50℃

使用注意事項(xiàng)

• 基材與模式選擇：測(cè)量前必須正確識(shí)別基材（鐵或非鐵），并選擇對(duì)應(yīng)的測(cè)量模式。
• 校準(zhǔn)：使用前必須在無(wú)涂層的同種基材上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，并在有涂層的已知厚度樣板上進(jìn)行校準(zhǔn)驗(yàn)證，以確保穿透涂層測(cè)量的準(zhǔn)確性。
• 表面處理：測(cè)量點(diǎn)表面應(yīng)盡量清潔、平整，無(wú)浮銹、灰塵及強(qiáng)烈褶皺，過(guò)厚的油污或附著物會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。
• 測(cè)量操作：測(cè)量時(shí)探頭需與工件表面保持垂直、穩(wěn)定接觸，避免傾斜、晃動(dòng)。施加的壓力應(yīng)恒定適中。
• 環(huán)境影響：避免在強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境中使用。極端高低溫可能影響儀器精度與電池性能。
• 探頭保護(hù)：避免探頭受到劇烈撞擊或磨損，定期檢查探頭磨損情況，嚴(yán)重磨損需更換。
• 涂層限制：穿透涂層功能對(duì)涂層的厚度和材質(zhì)有適用范圍，過(guò)厚或含磁性/導(dǎo)電顆粒的涂層可能導(dǎo)致測(cè)量誤差或失敗。
• 數(shù)據(jù)解讀：對(duì)于粗糙曲面、小工件、邊緣測(cè)量或特殊合金，讀數(shù)可能不穩(wěn)定，建議多次測(cè)量取平均值。
• 電池管理：長(zhǎng)期不使用應(yīng)取出電池，防止電池漏液損壞儀器。