【上海雙旭】UM-2D 穿透涂層測(cè)厚儀

上海雙旭UM-2D穿透涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

UM-2D是一款專為測(cè)量帶涂層金屬基材厚度而設(shè)計(jì)的測(cè)厚儀。它采用先進(jìn)的磁感應(yīng)和渦流原理，無需去除表面涂層，可直接測(cè)量基體金屬的厚度，廣泛應(yīng)用于涂裝、防腐、造船、汽車、鋼結(jié)構(gòu)等行業(yè)的質(zhì)量控制。

產(chǎn)品參數(shù)

• 測(cè)量原理：磁感應(yīng)/渦流（自動(dòng)識(shí)別探頭與基材）
• 測(cè)量范圍：0~2000μm（約0~80mil）
• 顯示分辨率：1μm / 0.1mil
• 測(cè)量精度：±（1~3%H+1μm），具體取決于基材和涂層
• 最小曲率半徑：凸面5mm，凹面25mm
• 最小測(cè)量面積：直徑20mm
• 最薄基體厚度：0.5mm（磁感應(yīng)），0.3mm（渦流）
• 涂層最大厚度：約3mm（取決于磁性/導(dǎo)電性）
• 電源：2節(jié)AA電池
• 顯示：背光LCD數(shù)字顯示
• 工作溫度：-10℃ ~ +50℃
• 存儲(chǔ)溫度：-20℃ ~ +60℃
• 主機(jī)尺寸與重量：約126mm x 68mm x 24mm，約150g（不含探頭）

使用注意事項(xiàng)

• 基材要求：儀器僅適用于測(cè)量磁性金屬（鋼、鐵）或非磁性金屬（鋁、銅、不銹鋼等）上的絕緣涂層厚度�；�材厚度必須大于規(guī)定的最小值。
• 校準(zhǔn)：使用前必須在無涂層的同種基材上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)。對(duì)于粗糙、彎曲或小面積的表面，應(yīng)使用專用試塊或箔膜進(jìn)行校準(zhǔn)。
• 測(cè)量操作：測(cè)量時(shí)探頭需保持與被測(cè)表面垂直、穩(wěn)定接觸。避免在邊緣、焊縫或強(qiáng)烈凹凸處測(cè)量，以免影響精度。
• 環(huán)境影響：強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)、劇烈溫度變化、灰塵和腐蝕性氣體會(huì)影響測(cè)量準(zhǔn)確性，應(yīng)盡量避免。
• 干擾涂層：若涂層含有金屬顆粒（如鋅、鋁等），可能會(huì)對(duì)測(cè)量造成顯著干擾，導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。
• 維護(hù)保養(yǎng)：保持探頭測(cè)量面清潔，避免磨損和撞擊。長(zhǎng)期不用時(shí)應(yīng)取出電池。儀器應(yīng)存放于干燥、無腐蝕性氣體的環(huán)境中。
• 安全須知：本儀器為精密電子設(shè)備，不可用于易燃易爆環(huán)境。請(qǐng)勿自行拆卸或改裝。

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