LEEB322 超聲波測(cè)厚儀
上海雙旭 LEEB322 超聲波測(cè)厚儀
產(chǎn)品概述
LEEB322 是上海雙旭電子有限公司推出的便攜式超聲波測(cè)厚儀，采用脈沖反射法測(cè)量原理，適用于金屬及多種非金屬材料的厚度檢測(cè)。設(shè)備結(jié)構(gòu)緊湊、操作簡(jiǎn)便，廣泛用于冶金、造船、石化、機(jī)械制造、特種設(shè)備檢驗(yàn)及維修領(lǐng)域。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測(cè)量范圍：0.75mm～300.0mm（鋼）
- 聲速范圍：1000～9999 m/s，可預(yù)設(shè)并存儲(chǔ)多種材料聲速
- 分辨率：0.01mm（0.1mm 當(dāng)厚度大于 100mm）
- 精度：±(0.5%H+0.04)mm（H 為實(shí)測(cè)厚度值）
- 顯示方式：128×64 點(diǎn)陣 LCD，帶背光
- 探頭類(lèi)型：?jiǎn)尉е碧筋^，標(biāo)配 5MHz φ10mm
- 耦合指示：液晶實(shí)時(shí)顯示耦合狀態(tài)
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：可存儲(chǔ) 500 組厚度值及聲速設(shè)置
- 數(shù)據(jù)傳輸：USB 接口與 PC 通信，配套專(zhuān)用軟件
- 電源：AA 堿性電池×2，連續(xù)工作時(shí)間≥50 小時(shí)
- 工作溫度：-10℃～+50℃，濕度≤90%RH
- 外形尺寸：130×70×30 mm
- 重量：約 220g（含電池）
主要功能特點(diǎn)
具備自動(dòng)零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能；支持基本/掃描兩種測(cè)量模式；可手動(dòng)或自動(dòng)關(guān)機(jī)；具有最小值捕獲、差值計(jì)算、報(bào)警閾值設(shè)定功能；界面簡(jiǎn)潔，按鍵布局合理，便于現(xiàn)場(chǎng)快速操作；外殼防護(hù)等級(jí) IP54，適應(yīng)工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境。
使用注意事項(xiàng)
- 被測(cè)工件表面須平整、清潔，去除氧化皮、油污、涂層等影響耦合的物質(zhì)，否則會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)誤差或無(wú)法測(cè)量。
- 耦合劑應(yīng)選用聲阻抗接近被測(cè)材料的介質(zhì)（如機(jī)油、甘油、水），涂抹均勻且適量，避免氣泡殘留。
- 探頭必須垂直對(duì)準(zhǔn)測(cè)量面，傾斜角度過(guò)大將引起回波衰減，影響精度甚至無(wú)信號(hào)。
- 在曲率半徑小的管材或曲面測(cè)量時(shí)，應(yīng)使用專(zhuān)用小直徑探頭或延遲塊，防止近場(chǎng)盲區(qū)影響結(jié)果。
- 不同材質(zhì)需正確輸入或選擇聲速值，聲速偏差直接影響厚度計(jì)算結(jié)果。
- 避免在強(qiáng)電磁干擾、高溫輻射、劇烈振動(dòng)環(huán)境下使用，以免損壞電路或探頭晶片。
- 長(zhǎng)時(shí)間不使用時(shí)取出電池，防止漏液腐蝕內(nèi)部元件；存放于干燥、溫度適宜處。
- 探頭晶片屬易損件，嚴(yán)禁磕碰、劃傷或跌落，使用后及時(shí)套上保護(hù)帽。
- 測(cè)量粗糙或內(nèi)部有缺陷的材料（夾渣、氣孔）時(shí)，數(shù)據(jù)可能波動(dòng)大，應(yīng)多點(diǎn)測(cè)量取平均值或結(jié)合其他方法驗(yàn)證。
- 定期使用標(biāo)準(zhǔn)厚度試塊進(jìn)行校驗(yàn)，確保儀器精度處于允許范圍內(nèi)。
適用范圍
可用于碳鋼、不銹鋼、鑄鐵、鋁、銅、玻璃、陶瓷、塑料等材料的厚度測(cè)量，特別適合管道壁厚、壓力容器殼體、板材、鍋爐受熱面、船體結(jié)構(gòu)及機(jī)械零部件的無(wú)損檢測(cè)。 |
