LEEB500 超聲波探傷儀
上海雙旭 LEEB500 超聲波探傷儀 — 產(chǎn)品介紹
LEEB500 是上海雙旭電子有限公司推出的便攜式數(shù)字超聲波探傷儀，適用于金屬、復合材料等內(nèi)部缺陷檢測，廣泛用于機械制造、壓力容器、鐵路、航空航天、特種設備檢測等領域。儀器采用高性能數(shù)字信號處理技術，具備高靈敏度、寬頻帶及多種探傷模式，支持實時波形顯示與數(shù)據(jù)記錄。
產(chǎn)品參數(shù)
- 檢測范圍：0～9999mm（鋼縱波）
- 工作頻率：0.5～15MHz，分多檔可調(diào)
- 增益范圍：0～110dB，步進0.1/1/2/6dB可選
- 聲速范圍：1000～15000m/s，連續(xù)可調(diào)
- 探頭接口：BNC/Q9通用接口，兼容單晶、雙晶、直探頭、斜探頭
- 掃描方式：A型顯示（射頻/檢波），支持全屏/局部擴展
- 檢測靈敏度余量：≥60dB（2.5MHz Φ20）
- 分辨力：≥30dB
- 動態(tài)范圍：≥30dB
- 垂直線性誤差：≤3%
- 水平線性誤差：≤0.5%
- 顯示屏：5.7英寸TFT彩色液晶，分辨率640×480
- 數(shù)據(jù)存儲：內(nèi)置存儲≥1000幅A掃波形及參數(shù)，支持USB導出
- 電源：可充電鋰電池，連續(xù)工作時間≥8小時
- 工作環(huán)境：溫度 -10℃～50℃，濕度 ≤90%RH（無結露）
- 尺寸/重量：約220×150×50mm，約1.2kg（含電池）
- 防護等級：IP54（防塵防濺水）
功能特點
具備DAC曲線制作與修正、AVG曲線自動生成、缺陷定位定量評估；支持閘門報警（進波/失波/峰值）、凍結/回放、峰值記憶；可設置材料聲速、零點校準、K值測量；內(nèi)置標準試塊參數(shù)庫，一鍵調(diào)用；提供峰值搜索、缺陷深度/當量/位置計算；支持波形對比分析，方便復檢比對。
使用注意事項
- 儀器須避免在強電磁干擾、高溫、高濕或腐蝕性氣體環(huán)境長時間工作，防止電路及屏幕損壞。
- 使用前檢查探頭表面清潔度，耦合劑需均勻涂覆，確保探頭與工件良好接觸，避免空氣間隙導致信號丟失。
- 不同材質(zhì)及厚度需對應設置正確聲速與探頭K值，零點校準必須依據(jù)標準試塊進行，否則影響缺陷定位精度。
- 增益不宜長期置于最大，防止放大器飽和引起波形失真；動態(tài)范圍不足時應調(diào)整濾波或抑制雜波。
- 電池電量低時應及時充電，避免檢測中突然斷電造成數(shù)據(jù)丟失；長期不用應每3個月充放電一次保護電池壽命。
- 探頭連線避免彎折、拉扯與重壓，BNC接頭保持干燥潔凈，防止接觸不良引發(fā)信號不穩(wěn)。
- 現(xiàn)場搬運須裝防震包或?qū)Ｓ孟�，避免跌落沖擊損傷內(nèi)部元件及屏幕。
- 禁止擅自拆解機殼，若出現(xiàn)故障應由廠家授權人員維修，私自拆修將導致保修失效并可能引發(fā)安全隱患。
- 在易燃易爆環(huán)境使用時，應確認設備為防爆型或采取隔離措施，普通型LEEB500不得用于此類場所。
|
