涂層測厚儀 AT-280
上海雙旭涂層測厚儀 AT-280
產品參數(shù)
測量原理：磁性感應/渦流感應（雙功能）
測量范圍：0~1250μm（具體取決于探頭和基材）
分辨率：0.1μm / 1μm
測量精度：±(1~3%讀數(shù)+1μm)
最小曲率：凸5mm / 凹25mm
最小測量面積：直徑10mm
最薄基體：0.3mm（磁性）/ 0.5mm（渦流）
校準方式：零點校準、多點校準
數(shù)據存儲：通常具備分組存儲功能，具體容量視型號而定
顯示：背光LCD數(shù)字顯示
電源：AA電池
工作溫度：0℃~40℃
主機尺寸：約102mm * 66mm * 24mm
使用注意事項
校準：使用前必須在與待測工件相同材質和曲率的無涂層基體上進行零點校準，必要時使用標準片進行多點校準。
基體影響：基體金屬的材質、厚度、曲率、表面粗糙度及電磁特性會顯著影響測量結果。
表面清潔：確保被測表面清潔，無油污、灰塵、銹跡及氧化皮等附著物。
探頭放置：測量時探頭需垂直、平穩(wěn)地緊貼被測表面，避免傾斜、晃動或壓力不均。
邊緣效應：避免在靠近工件邊緣、內角或狹窄區(qū)域測量，通常需保持距離邊緣至少5mm以上。
溫度穩(wěn)定性：避免在劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，儀器與標準片、工件應處于相同溫度條件下。
磁場干擾：遠離強電磁場環(huán)境（如大型電機、變壓器），以防磁性測量出現(xiàn)誤差。
探頭保護：避免探頭受到劇烈撞擊或磨損，測量粗糙表面時建議使用耐磨探頭或保護片。
定期驗證：定期使用標準片驗證儀器精度，確保測量可靠性。
電池狀態(tài)：低電量可能導致讀數(shù)不準，應及時更換電池。 |
