上海雙旭UM-1D穿透涂層測厚儀
產(chǎn)品簡介：UM-1D是一款專為測量帶涂層金屬基材厚度而設(shè)計的測厚儀，能夠在不去除表面涂層的情況下，直接精確測量金屬基體的厚度。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量原理：磁性感應(yīng)/渦流原理（自動識別基材）
- 測量范圍：0~2000μm（約0~2mm，具體視型號配置）
- 顯示分辨率：1μm / 0.1mil
- 測量精度：±（1~3%H+1μm），具體取決于基材和涂層
- 最小曲率：凸5mm / 凹25mm
- 最小面積：直徑20mm
- 最薄基體：0.3mm
- 涂層穿透能力：最高可達(dá)5mm（視涂層材質(zhì)而定）
- 校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)
- 數(shù)據(jù)存儲：通常具備數(shù)據(jù)存儲和統(tǒng)計功能
- 電源：AAA電池
- 顯示：LCD液晶顯示屏
- 工作溫度：0℃~40℃
使用注意事項
- 基材限制：僅適用于磁性金屬（如鋼、鐵）或非磁性金屬（如鋁、銅）基體上的絕緣涂層測厚。
- 校準(zhǔn)要求：測量前必須在無涂層的同種基材上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，必要時使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)以確保精度。
- 表面處理：測量表面應(yīng)清潔、平整，無強(qiáng)烈磁性或?qū)щ娦愿蓴_物質(zhì)。
- 測量姿勢：探頭需垂直、平穩(wěn)緊貼被測表面，避免傾斜、晃動或壓力不均。
- 環(huán)境干擾：遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場、強(qiáng)電場環(huán)境，避免影響測量準(zhǔn)確性。
- 極端厚度：對于極薄基體或極厚涂層，可能超出儀器能力范圍，需確認(rèn)規(guī)格。
- 探頭保護(hù)：避免探頭磨損、撞擊，定期清潔探頭端面。
- 電池狀態(tài)：低電量時可能導(dǎo)致測量誤差，應(yīng)及時更換電池。
