上海雙旭電子有限公司超聲縱波雙晶斜探頭產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品概述

上海雙旭電子有限公司專業(yè)生產(chǎn)無(wú)損檢測(cè)設(shè)備及配件，其超聲縱波雙晶斜探頭（也稱分割式斜探頭或雙晶斜探頭）專為高精度厚度測(cè)量和近表面缺陷檢測(cè)設(shè)計(jì)。該探頭采用兩個(gè)晶片（一發(fā)一收）以特定角度傾斜安裝，具有靈敏度高、盲區(qū)小、分辨率優(yōu)異的特點(diǎn)，特別適用于薄壁工件、腐蝕測(cè)厚及近表面缺陷的精確檢測(cè)。

核心產(chǎn)品參數(shù)

• 型號(hào)系列： 5P6×6 K1/K2/K3， 2.5P8×8 K1/K2/K3等（P表示晶片頻率，數(shù)字為尺寸，K為折射角正切值）
• 頻率： 常用2.5MHz, 5MHz，可選1MHz, 10MHz等
• 晶片尺寸： 6×6mm, 8×8mm, 10×10mm, 12×12mm等方形或圓形晶片
• 折射角（K值）： K1（45°）， K2（63°）， K3（70°）等，對(duì)應(yīng)鋼中縱波折射角
• 連接器類型： Q9（BNC）/ LEMO標(biāo)準(zhǔn)接口
• 工作溫度： 通常-20℃至+50℃
• 探頭靴： 標(biāo)配硬質(zhì)耐磨有機(jī)玻璃楔塊，可根據(jù)工件曲面定制

使用注意事項(xiàng)

• 耦合劑選擇： 必須使用足量且合適的耦合劑（如機(jī)油、甘油、專用耦合劑），確保聲波有效傳輸。
• 校準(zhǔn)與調(diào)校： 使用前需在標(biāo)準(zhǔn)試塊（如CSK-IA、階梯試塊）上校準(zhǔn)聲速、零點(diǎn)和K值，并制作DAC/TCG曲線。
• 檢測(cè)面準(zhǔn)備： 被檢工件表面應(yīng)打磨平整，去除銹蝕、油漆及粗糙物，以保證探頭平穩(wěn)移動(dòng)和耦合穩(wěn)定。
• 壓力控制： 探頭施加壓力應(yīng)均勻、適中，壓力過(guò)大會(huì)影響耦合層厚度甚至損壞探頭楔塊。
• 溫度影響： 避免在超出規(guī)定溫度范圍的環(huán)境中使用，極端溫度會(huì)影響楔塊聲速和探頭性能。
• 探頭保護(hù)： 使用后及時(shí)清潔探頭表面耦合劑，避免楔塊磨損、撞擊或接觸腐蝕性物質(zhì)。
• 適用性確認(rèn)： 縱波雙晶斜探頭主要用于縱波檢測(cè)，需根據(jù)工件厚度、檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及目標(biāo)缺陷類型（如分層、腐蝕）選擇合適的頻率、K值和晶片尺寸。
• 儀器匹配： 確保探頭與超聲探傷儀的阻抗、頻率范圍及脈沖類型匹配，以獲得最佳信噪比。