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上海雙旭UM-2D穿透涂層測厚儀產(chǎn)品介紹

UM-2D穿透涂層測厚儀是一款由上海雙旭電子有限公司設(shè)計生產(chǎn)的精密測量儀器，專用于在無需剝離非導電涂層（如油漆、塑料、搪瓷等）的情況下，直接、快速、準確地測量金屬基材（如鋼、鐵、鋁、銅等）的厚度。

產(chǎn)品參數(shù)

• 測量原理：磁感應/渦流原理（自動識別基材并切換）。
• 測量范圍：通常為0~2000μm（具體取決于探頭和基材，以實際型號規(guī)格為準）。
• 顯示分辨率：0.1μm / 1μm。
• 測量精度：±（1~3%讀數(shù)+1~2μm），高精度型號精度更高。
• 最小曲率：凸面5mm，凹面25mm（示例值，實際請參考說明書）。
• 最小測量面積：直徑約20mm。
• 最小基體厚度：約0.5mm（取決于探頭）。
• 探頭類型：一體式或分體式雙功能探頭。
• 校準方式：零點校準、兩點校準或多點校準。
• 數(shù)據(jù)存儲：通常具備，存儲容量因型號而異。
• 顯示單元：背光液晶顯示屏。
• 電源：AA電池或可充電鋰電池。
• 工作溫度：通常為0℃~40℃。
• 外殼材質(zhì)：工程塑料，防滑防油設(shè)計。

使用注意事項

• 校準至關(guān)重要：使用前必須在無涂層的同種基材上進行零點校準，并在隨機的標準片上進行量程校準，以確保測量準確性。
• 基材特性影響：測量精度受基材的電磁特性（如導磁性、導電性）影響。對于合金或特殊材料，需使用針對該材料的校準片進行校準。
• 表面與邊緣效應：測量點應遠離邊緣、轉(zhuǎn)角、焊縫或劇烈彎曲處，表面應清潔、無附著物（如鐵銹、灰塵），以免干擾探頭信號。
• 涂層限制：僅適用于測量非導電涂層下的金屬基材厚度。無法測量導電涂層（如電鍍層）或多層涂層中的某一層。
• 探頭保護：測量時保持探頭垂直于被測表面，避免磨損或撞擊探頭晶片。使用后清潔探頭并蓋上保護蓋。
• 溫度穩(wěn)定性：避免在劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，儀器和被測物應與環(huán)境溫度一致，以減少熱脹冷縮帶來的誤差。
• 電磁干擾：遠離強磁場、強電場或大型機電設(shè)備，以防讀數(shù)不穩(wěn)定。
• 電池管理：電量不足時及時更換電池，低電壓可能導致測量誤差或儀器故障。
• 定期驗證：對于關(guān)鍵測量，應定期使用標準片驗證儀器精度，并按照制造商建議進行維護。

注：以上參數(shù)和注意事項為通用描述，具體請以上海雙旭提供的UM-2D型號官方說明書為準。操作前務必仔細閱讀說明書。