【上海雙旭】UM-2D 穿透涂層測厚儀供應商
上海雙旭UM-2D穿透涂層測厚儀供應商介紹
產(chǎn)品概述
上海雙旭電子有限公司是UM-2D穿透涂層測厚儀的供應商之一。該儀器是一款專為測量帶涂層金屬基材厚度而設計的設備，無需去除表面涂層即可直接測量基體金屬的厚度，廣泛應用于涂裝、防腐、造船、電力、鋼結構等行業(yè)的質量控制。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量原理：磁感應/渦流原理（雙功能探頭，自動識別鐵基/非鐵基）
- 測量范圍：通常為0~2000μm（基材厚度），具體取決于探頭和基材類型
- 涂層穿透能力：可穿透最高約3mm的非導電涂層（如油漆、塑料、釉質等）進行測量
- 測量精度：±(1~3%讀數(shù) + 1~2μm)，精度受涂層厚度和均勻性影響
- 顯示：LCD液晶顯示屏
- 校準：零點校準和多點校準，支持多種校準片
- 數(shù)據(jù)存儲：通常具備一定數(shù)量的測量值存儲功能
- 電源：AA電池或可充電電池
- 接口：可能配備USB或藍牙接口用于數(shù)據(jù)導出（取決于具體配置）
- 工作溫度：通常為0°C ~ 40°C
使用注意事項
- 基材限制：僅適用于磁性（鋼、鐵）或非磁性（鋁、銅、不銹鋼等）金屬基材。涂層必須為非導電、非磁性材料。
- 表面清潔：測量前需清除表面浮銹、灰塵、油污及附著物，確保探頭與涂層良好接觸。
- 涂層厚度影響：涂層過厚或不均勻可能導致測量誤差增大甚至無法測量。儀器有最大可穿透涂層厚度限制。
- 校準：必須使用與待測基材相同材質、相同曲率的無涂層標準片進行校準。測量不同基材或形狀前應重新校準。
- 邊緣效應：測量點應遠離邊緣、孔洞、焊縫或形狀突變處，一般需保持距離大于探頭直徑。
- 曲率影響：小直徑或復雜曲面的測量需使用專用小探頭或曲面校準片，否則精度會下降。
- 溫度穩(wěn)定性：避免在極端溫度或溫度劇烈變化的環(huán)境中使用，以免影響電子元件穩(wěn)定性。
- 探頭保護：避免探頭受到劇烈撞擊或磨損，測量時保持探頭垂直于被測表面并施加恒定壓力。
- 電池管理：長期不使用應取出電池，避免電池漏液損壞儀器。
- 數(shù)據(jù)驗證：對于關鍵測量，建議在相同條件的無涂層處或去除涂層后進行對比驗證，以確保數(shù)據(jù)可靠性。
供應商服務
作為供應商，上海雙旭通�？商峁︰M-2D測厚儀的銷售、技術咨詢、校準服務、操作培訓及售后維修支持。具體供貨型號、配置、價格及服務條款需直接聯(lián)系該公司確認。 |
