【上海雙旭】UM-4 A掃描快照超聲波測厚儀型號(hào)
上海雙旭 UM-4 A掃描快照超聲波測厚儀
產(chǎn)品概述
UM-4 A掃描快照超聲波測厚儀是上海雙旭電子有限公司生產(chǎn)的一款便攜式高精度厚度測量儀器。它采用超聲波脈沖回波原理，結(jié)合A掃描波形顯示功能，能夠直觀地觀察材料內(nèi)部回波情況，特別適用于對測量結(jié)果有溯源和精確分析需求的場合，如腐蝕檢測、材料厚度測量等。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量范圍：0.75mm ~ 300mm（鋼，取決于探頭和材料）
- 顯示分辨率：0.01mm / 0.001inch
- 測量精度：±（0.5%H + 0.04）mm，H為被測物厚度
- 聲速范圍：500 ~ 9999 m/s
- 探頭頻率：標(biāo)配5MHz探頭，可選配1MHz、2.5MHz、7.5MHz、10MHz等多種頻率探頭
- A掃描顯示：具有實(shí)時(shí)A掃描波形顯示功能，可凍結(jié)和存儲(chǔ)波形快照
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：可存儲(chǔ)大量厚度測量數(shù)據(jù)和A掃描波形圖
- 顯示屏幕：高亮度彩色LCD顯示屏
- 電源：可充電鋰電池，連續(xù)工作時(shí)間約10小時(shí)
- 工作溫度：-10℃ ~ 50℃
- 外殼防護(hù)：IP65防護(hù)等級，防塵防水
- 接口：USB接口，用于數(shù)據(jù)傳輸和軟件升級
主要特點(diǎn)
- A掃描快照功能：關(guān)鍵優(yōu)勢，可捕獲并回放測量點(diǎn)的完整A掃描波形，用于結(jié)果驗(yàn)證和深度分析。
- 高精度與高分辨率：滿足精密測量需求。
- 多種測量模式：支持標(biāo)準(zhǔn)厚度測量、腐蝕模式（最小值捕獲）、差值測量等。
- 探頭兼容性強(qiáng)：支持多種單晶、雙晶探頭，適應(yīng)不同應(yīng)用場景。
- 堅(jiān)固耐用：符合IP65標(biāo)準(zhǔn)，適用于惡劣工業(yè)環(huán)境。
- 數(shù)據(jù)管理：可通過PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)導(dǎo)出、生成報(bào)告。
使用注意事項(xiàng)
- 探頭選擇：根據(jù)被測材料的材質(zhì)、厚度、表面狀況和溫度選擇合適的探頭。粗糙或曲面表面可能需要專用探頭或使用耦合劑確保聲耦合。
- 校準(zhǔn)：測量前必須使用與被測材料聲速相同的標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行校準(zhǔn)。當(dāng)更換探頭或測量不同聲速材料時(shí)，需重新校準(zhǔn)。
- 表面處理：測量區(qū)域應(yīng)清潔、平整，去除銹跡、油漆和氧化層，并使用適量的耦合劑（如甘油、機(jī)油或?qū)Ｓ民詈细啵┨畛涮筋^與工件之間的空隙。
- 測量技巧：測量時(shí)探頭應(yīng)與被測表面保持垂直并施加穩(wěn)定、適當(dāng)?shù)膲毫�。對于腐蝕件，應(yīng)在疑似最薄區(qū)域進(jìn)行多點(diǎn)測量，并利用“最小值掃描”功能。
- 溫度影響：避免在極高或極低溫度下長時(shí)間使用儀器。被測材料溫度過高時(shí)，需使用高溫探頭和耦合劑。
- A掃描解讀：正確解讀A掃描波形是確保測量準(zhǔn)確的關(guān)鍵。注意識(shí)別一次底波，避免將材料內(nèi)部缺陷回波或噪聲誤判為厚度回波。
- 電池維護(hù)：使用原裝充電器，避免電池過度放電。長期不使用時(shí)，應(yīng)定期充電。
- 存儲(chǔ)與保養(yǎng)：儀器應(yīng)存放在干燥、清潔的環(huán)境中。清潔時(shí)請用軟布擦拭，避免使用腐蝕性液體。探頭線應(yīng)避免過度彎折和拉扯。
- 安全須知：本儀器為精密電子設(shè)備，請勿在易燃易爆氣體環(huán)境中使用。維修應(yīng)由專業(yè)人員進(jìn)行。
典型應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于石油化工、壓力容器、管道、造船、電力、航空航天、冶金等行業(yè)，用于測量金屬（鋼、鋁、銅等）、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度，特別適用于檢測因腐蝕或侵蝕導(dǎo)致的壁厚減薄。 |
