【上海雙旭】CM10F涂鍍層測厚儀
上海雙旭CM10F涂鍍層測厚儀
產(chǎn)品簡介
CM10F涂鍍層測厚儀是上海雙旭電子有限公司生產(chǎn)的一款便攜式、高精度磁性/渦流兩用測厚儀，主要用于測量鐵基及非鐵基體上的涂鍍層厚度。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量原理：磁性感應(yīng)（用于鋼鐵基體上的非磁性涂層）/ 渦流感應(yīng)（用于非鐵金屬基體上的絕緣涂層）
- 測量范圍：0~1250μm（具體范圍取決于探頭配置）
- 分辨率：0.1μm / 1μm（根據(jù)量程自動切換）
- 測量精度：±(1~3%讀數(shù)+1μm)，具體精度因測量條件和基體而異
- 最小曲率：凸5mm / 凹25mm（取決于探頭）
- 最小測量面積：直徑10mm
- 最薄基體厚度：0.4mm（磁性測量）/ 0.05mm（渦流測量）
- 校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)
- 數(shù)據(jù)存儲：通常具備存儲功能，具體存儲量視型號而定
- 顯示：背光LCD液晶顯示屏
- 電源：AA電池或可充電電池
- 工作溫度：0℃ ~ 40℃
- 主機(jī)尺寸與重量：小型便攜式設(shè)計，具體尺寸重量請參考官方資料
使用注意事項(xiàng)
- 基體與校準(zhǔn)：測量前必須在與待測工件相同材質(zhì)、相同表面曲率的無涂層基體上進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保測量準(zhǔn)確性。
- 表面清潔：待測表面必須清潔，無油污、灰塵、銹跡及其他附著物。
- 測量壓力與方式：測量時探頭應(yīng)垂直、平穩(wěn)地輕觸被測表面，避免傾斜、晃動或施加過大壓力。
- 邊緣效應(yīng)：測量點(diǎn)應(yīng)遠(yuǎn)離邊緣、孔洞和內(nèi)角，一般需保持距離大于探頭直徑的3倍。
- 基體厚度：確�；w厚度超過“最小基體厚度”要求，否則測量會受基體背面形狀影響。
- 曲率影響：在強(qiáng)彎曲表面測量時，應(yīng)使用專用小探頭或在相應(yīng)曲率的校準(zhǔn)樣板上校準(zhǔn)。
- 強(qiáng)磁場干擾：避免在強(qiáng)磁場或強(qiáng)電磁場環(huán)境（如大型變壓器、電機(jī)附近）使用，以免影響磁性測量結(jié)果。
- 溫度影響：避免在極高或極低溫度下使用，極端溫度會影響儀器電子元件性能和校準(zhǔn)狀態(tài)。
- 探頭保護(hù)：探頭為精密部件，避免撞擊、磨損或接觸腐蝕性化學(xué)品。定期清潔探頭端面。
- 電池管理：長期不使用時應(yīng)取出電池，防止電池漏液損壞儀器。使用電量充足的電池，低電量可能導(dǎo)致測量誤差。
- 數(shù)據(jù)解讀：對于粗糙表面或特殊涂層（如多層、非均勻涂層），單點(diǎn)測量代表性有限，應(yīng)進(jìn)行多點(diǎn)測量取平均值。
注：以上信息基于通用型號整理，具體產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)格、功能及操作請務(wù)必以上海雙旭提供的官方說明書為準(zhǔn)。 |
