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上海雙旭CM10FN涂鍍層測(cè)厚儀參數(shù)

測(cè)量原理：磁性感應(yīng)/渦流感應(yīng)（雙功能）

測(cè)量范圍：0-1250μm（鋼基體）/0-1250μm（非鐵基體）

分辨率：0.1μm/1μm

精度：±(1-3%讀數(shù)+1μm)

最小曲率半徑：凸面5mm，凹面25mm

最小測(cè)量面積：直徑10mm

最小基體厚度：0.5mm（磁性）/50μm（渦流）

校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：約1000組測(cè)量數(shù)據(jù)

電源：2節(jié)AAA電池

工作溫度：0-40℃

尺寸/重量：約102×60×27mm/約100g

供應(yīng)商介紹

上海雙旭電子有限公司是專業(yè)從事涂鍍層測(cè)厚儀等檢測(cè)儀器研發(fā)、生產(chǎn)與銷售的企業(yè)。公司提供CM10FN型號(hào)的直接銷售與技術(shù)支持，可通過(guò)其官方渠道或授權(quán)經(jīng)銷商進(jìn)行采購(gòu)。

使用注意事項(xiàng)

校準(zhǔn)要求：測(cè)量前必須在與待測(cè)工件相同材質(zhì)和粗糙度的無(wú)涂層基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，建議使用配套標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行多點(diǎn)校準(zhǔn)。

基體影響：基體金屬的電導(dǎo)率、磁性、厚度及曲率會(huì)顯著影響測(cè)量結(jié)果，超出儀器規(guī)定的最小基體厚度或曲率限制時(shí)，測(cè)量值不可靠。

表面處理：待測(cè)表面必須清潔、干燥，無(wú)油污、氧化皮及雜質(zhì)，粗糙表面需進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量取平均值。

探頭保護(hù)：測(cè)量時(shí)探頭需垂直貼合被測(cè)面，避免磨損探頭寶石觸頭，長(zhǎng)期不使用時(shí)應(yīng)取出電池。

環(huán)境條件：避免在強(qiáng)磁場(chǎng)、高溫、高濕或腐蝕性環(huán)境中使用，極端溫度可能導(dǎo)致測(cè)量誤差。

干擾因素：附近電氣設(shè)備、移動(dòng)電話等電磁干擾源可能影響儀器穩(wěn)定性。