上海雙旭UM-1D穿透涂層測厚儀參數(shù)介紹
產(chǎn)品概述：UM-1D是一款專為測量帶涂層金屬基材總厚度（涂層+基材）而設計的測厚儀，采用磁性測厚原理，可穿透非鐵磁性涂層（如油漆、塑料、搪瓷等）直接測量下方的鐵磁性基體（如鋼、鐵）厚度。
主要技術(shù)參數(shù)
- 測量原理：磁性感應
- 測量范圍：0~1000μm（典型值，具體取決于涂層與基材）
- 顯示分辨率：1μm
- 測量精度：±(1~3%讀數(shù)+1μm)，視基材厚度與涂層性質(zhì)而定
- 最小曲率：凸面半徑5mm，凹面半徑25mm
- 最小測量面積：直徑20mm
- 最小基體厚度：0.5mm（影響測量精度）
- 校準方式：零點校準、多點校準（通常隨附標準片）
- 顯示單元：液晶數(shù)字顯示
- 電源：通常為9V電池
- 工作溫度：0°C ~ 40°C
- 存儲溫度：-10°C ~ 60°C
- 外形尺寸與重量：約150mm×70mm×30mm，重量約200g（具體以實物為準）
使用注意事項
- 基體要求：僅適用于鐵磁性金屬基體（如鋼、鐵）。非鐵磁性基體（如鋁、銅、不銹鋼奧氏體）無法測量。
- 涂層限制：涂層必須為非鐵磁性材料。若涂層含有鐵磁性顆粒（如某些富鋅底漆），測量結(jié)果將嚴重失真。
- 表面清潔：測量前需確保涂層表面清潔，無附著物（如灰塵、油污、銹蝕），以免影響探頭接觸和測量精度。
- 曲率與邊緣效應：在強彎曲表面或邊緣附近測量時，讀數(shù)可能不準，應在平整區(qū)域進行測量并取平均值。
- 基體厚度影響：基體厚度過�。ㄈ缧∮�1mm）可能導致測量誤差增大，建議根據(jù)實際工況進行校準驗證。
- 溫度穩(wěn)定性：避免在劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，極端溫度可能影響儀器電子元件性能與探頭磁性。
- 校準與保養(yǎng)：
- 使用前必須在相同基材、無涂層處進行“零點校準”。
- 定期使用隨附標準片進行精度驗證。
- 保持探頭測量面清潔，避免磨損、磕碰。
- 長期不用時應取出電池。
- 測量壓力：測量時探頭應垂直、平穩(wěn)接觸被測表面，施加壓力需均勻恒定，避免用力過猛或傾斜。
- 電磁干擾：遠離強磁場、強電流或其他可能產(chǎn)生電磁干擾的設備。
