CM10F涂鍍層測(cè)厚儀【上海雙旭】型號(hào)
上海雙旭CM10F涂鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)品概述
CM10F是上海雙旭電子有限公司生產(chǎn)的一款便攜式涂鍍層測(cè)厚儀，主要用于快速、無(wú)損地測(cè)量金屬基體上的非導(dǎo)電涂層或非磁性金屬鍍層的厚度。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測(cè)量原理：磁性感應(yīng)（Fe基）/ 渦流感應(yīng)（NFe基）
- 測(cè)量范圍：0~1250μm（具體范圍視探頭和基材而定）
- 分辨率：0.1μm / 1μm
- 測(cè)量精度：±（1~3%讀數(shù)+零點(diǎn)漂移）
- 最小曲率：凸5mm / 凹25mm（取決于探頭）
- 最小測(cè)量面積：直徑10mm
- 基材識(shí)別：自動(dòng)識(shí)別鐵基（Fe）或非鐵基（NFe）
- 顯示：背光LCD液晶顯示屏
- 校準(zhǔn)：零點(diǎn)校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通常具備一定數(shù)量的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和統(tǒng)計(jì)功能
- 電源：AA電池或可充電電池
- 接口：可能配備USB或RS232接口用于數(shù)據(jù)導(dǎo)出（具體以實(shí)物為準(zhǔn)）
使用注意事項(xiàng)
- 校準(zhǔn)：使用前必須在與待測(cè)工件相同材質(zhì)和表面粗糙度的無(wú)涂層基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，并使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行量程校準(zhǔn)，以確保測(cè)量準(zhǔn)確性。
- 基材影響：基材的材質(zhì)、厚度、曲率、表面粗糙度和磁性都會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。對(duì)于薄壁或小尺寸工件，需特別注意。
- 探頭放置：測(cè)量時(shí)探頭需垂直、平穩(wěn)地緊貼被測(cè)表面，避免傾斜或晃動(dòng)。
- 邊緣效應(yīng)：靠近工件邊緣、內(nèi)角或狹窄區(qū)域測(cè)量時(shí)，讀數(shù)可能不準(zhǔn)，應(yīng)保持探頭與邊緣有足夠距離（通常大于探頭直徑）。
- 環(huán)境條件：避免在強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)或極端溫度、濕度環(huán)境下使用，以防干擾或損壞儀器。
- 清潔維護(hù)：保持探頭和標(biāo)準(zhǔn)片清潔，避免劃傷。長(zhǎng)期不用時(shí)應(yīng)取出電池。
- 應(yīng)用限制：該儀器不適用于測(cè)量非金屬基體上的涂層，或成分復(fù)雜的合金鍍層（如含有強(qiáng)磁性成分）。
- 結(jié)果判斷：對(duì)于關(guān)鍵質(zhì)量判定，建議在多個(gè)點(diǎn)重復(fù)測(cè)量并取平均值，或結(jié)合其他檢測(cè)方法綜合判斷。
注：以上信息基于該型號(hào)的典型特征匯總，具體技術(shù)規(guī)格和操作要求請(qǐng)務(wù)必以上海雙旭官方發(fā)布的最新說(shuō)明書為準(zhǔn)。 |
