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上海雙旭UM-2D穿透涂層測(cè)厚儀供應(yīng)商介紹

上海雙旭電子有限公司是UM-2D穿透涂層測(cè)厚儀的主要供應(yīng)商，專業(yè)從事測(cè)量?jī)x器的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售。

產(chǎn)品參數(shù)

• 測(cè)量原理：磁感應(yīng)與渦流
• 測(cè)量模式：穿透涂層模式（可測(cè)量基材厚度，自動(dòng)補(bǔ)償涂層厚度）
• 測(cè)量范圍：0~2000μm（鐵基）/ 0~1500μm（非鐵基），具體取決于探頭
• 涂層穿透能力：≤2000μm（鐵基涂層，如油漆）
• 精度：±（1~3%H+1）μm，H為測(cè)量值
• 最小曲率：凸5mm / 凹25mm
• 最小測(cè)量面積：直徑20mm
• 最小基體厚度：0.5mm（Fe）/ 0.3mm（NFe）
• 校準(zhǔn)：零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)
• 顯示：LCD背光顯示屏
• 電源：2節(jié)AA電池
• 工作溫度：-10℃ ~ 50℃

使用注意事項(xiàng)

• 校準(zhǔn)：使用前必須在無(wú)涂層的同質(zhì)基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，并在有涂層的標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)以補(bǔ)償涂層影響。
• 基體要求：基體必須為導(dǎo)磁（鐵、鋼）或?qū)щ姡ㄤX、銅）材料，且厚度需超過(guò)設(shè)備要求的最小基體厚度。
• 表面處理：測(cè)量前需清除待測(cè)點(diǎn)表面的附著物（如浮銹、灰塵），但無(wú)需去除涂層。
• 測(cè)量操作：探頭需垂直、平穩(wěn)地緊貼測(cè)量表面，避免傾斜或晃動(dòng)。在邊緣或小平面測(cè)量時(shí)需特別小心。
• 環(huán)境干擾：避免在強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)或劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，以免影響測(cè)量精度。
• 探頭保護(hù)：避免探頭受到劇烈撞擊或磨損，定期檢查探頭狀態(tài)。
• 數(shù)據(jù)解讀：對(duì)于粗糙表面、多層涂層或特殊合金，讀數(shù)可能產(chǎn)生偏差，建議多點(diǎn)測(cè)量取平均值。
• 電池管理：長(zhǎng)期不使用應(yīng)取出電池，電量不足時(shí)及時(shí)更換，以防測(cè)量誤差。