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上海雙旭LED芯片發(fā)光性能測試系統(tǒng)

該系統(tǒng)專為LED芯片的光電性能精確測量而設(shè)計，適用于研發(fā)與質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。

核心產(chǎn)品參數(shù)

• 測量參數(shù): 光通量、發(fā)光強度、色坐標、色溫、顯色指數(shù)、峰值波長、主波長、光譜功率分布。
• 光度測量范圍: 0.1 lm - 10,000 lm（可定制擴展）。
• 光譜范圍: 380nm - 780nm（標準可見光范圍）。
• 積分球尺寸: 提供直徑30cm、50cm、100cm等多種規(guī)格可選。
• 電學參數(shù)測試: 支持IV測試，電壓范圍0-100V，電流范圍0-20A。
• 系統(tǒng)精度: 光度測量精度優(yōu)于±3%，色度測量精度Δx, Δy ≤ ±0.003。
• 數(shù)據(jù)接口: 標準RS-232、GPIB或以太網(wǎng)接口，配套專業(yè)分析軟件。

價格說明

系統(tǒng)為高度定制化產(chǎn)品，價格因具體配置（如積分球尺寸、探頭精度、測試速度、自動化程度）差異較大�；�礎(chǔ)配置起步價約人民幣15萬至30萬元，高端全自動系統(tǒng)價格可達人民幣50萬元以上。需根據(jù)詳細測試需求獲取精確報價。

使用注意事項

• 環(huán)境要求: 需在暗室、恒溫（23±2℃）、無塵、無振動環(huán)境中使用，避免雜散光干擾。
• 校準維護: 開機需預熱，定期使用標準光源對系統(tǒng)進行校準，確保數(shù)據(jù)溯源性。
• 樣品放置: LED芯片需精確固定于積分球中心，確保其發(fā)光中心與探測器光學中心對齊。
• 電學連接: 確保測試探針與芯片電極接觸良好，避免接觸電阻引入測試誤差。
• 安全操作: 測試高功率芯片時，注意散熱與電流過載防護，遵守電氣安全規(guī)范。
• 軟件設(shè)置: 正確設(shè)置測試參數(shù)（如積分時間、電流掃描范圍），錯誤設(shè)置將導致數(shù)據(jù)失真。