LED芯片發(fā)光性能測試系統(tǒng)廠家
上海雙旭電子有限公司 - LED芯片發(fā)光性能測試系統(tǒng)
產(chǎn)品參數(shù)
型號系列：SX-LED系列（涵蓋SX-LED1000至SX-LED5000等多種型號）
測試光譜范圍：380nm - 780nm（可擴(kuò)展至紫外與近紅外波段）
光度測量精度：±2%（符合CIE 127標(biāo)準(zhǔn)）
色度測量精度：Δx, Δy ≤ ±0.002（標(biāo)準(zhǔn)A光源下）
電學(xué)參數(shù)測試：電壓范圍0-50V，電流范圍0-2A，精度±0.1%
積分球尺寸：標(biāo)配直徑30cm/50cm（可選配10cm至100cm）
散熱控制：溫控范圍-10℃至+80℃，精度±0.5℃
軟件系統(tǒng)：支持光通量、色坐標(biāo)、色溫、顯色指數(shù)、電功率、光效等全參數(shù)自動測試與報(bào)表生成
數(shù)據(jù)接口：USB/GPIB/LAN，支持LabVIEW二次開發(fā)
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)要求：系統(tǒng)需每6個月使用標(biāo)準(zhǔn)光源進(jìn)行光度與色度校準(zhǔn)，嚴(yán)禁使用超期未校準(zhǔn)設(shè)備進(jìn)行認(rèn)證測試。
環(huán)境條件：操作溫度需保持在20℃±5℃，濕度低于70%RH，避免強(qiáng)磁場與振動干擾。
樣品安裝：LED芯片必須與積分球內(nèi)壁保持標(biāo)準(zhǔn)距離，禁止遮擋探測器窗口，焊接引線需使用規(guī)定直徑的鍍銀線。
電學(xué)安全：測試大功率芯片時需確保散熱器有效連接，禁止在通電狀態(tài)下插拔樣品，防止浪涌電流損壞探頭。
光學(xué)維護(hù)：積分球內(nèi)壁涂層嚴(yán)禁觸碰或清潔劑擦拭，探測器窗口需每月用無水乙醇單向清潔。
數(shù)據(jù)有效性：測試前需進(jìn)行暗背景校準(zhǔn)，連續(xù)測試超過1小時需重新進(jìn)行零點(diǎn)漂移校正。
廠家簡介
上海雙旭電子有限公司專注于高精度光電測試儀器研發(fā)制造，其LED測試系統(tǒng)采用NIM可溯源校準(zhǔn)技術(shù)，集成恒流源、光譜儀及熱管理模塊，適用于芯片研發(fā)、產(chǎn)線分選及質(zhì)檢認(rèn)證環(huán)節(jié)。系統(tǒng)符合LM-80、IESNA等國際測試標(biāo)準(zhǔn)，并提供定制化夾具與自動化集成方案。 |
