PDP真空紫外熒光光譜測(cè)試系統(tǒng)型號(hào)價(jià)格
上海雙旭PDP真空紫外熒光光譜測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)與參考價(jià)格
常見型號(hào)： SX-PDP-UVF系列（具體型號(hào)需根據(jù)配置定制，如SX-PDP-UVF-200）。
參考價(jià)格范圍： 人民幣 200,000 元至 500,000 元不等（價(jià)格受光源類型、探測(cè)器、真空度、自動(dòng)化程度等配置影響，需根據(jù)具體需求詢價(jià)）。
主要產(chǎn)品參數(shù)
- 光譜范圍： 通常覆蓋120nm ~ 400nm（真空紫外至近紫外），可擴(kuò)展至可見光區(qū)。
- 光源系統(tǒng)： 氘燈、空心陰極燈或同步輻射光源接口，可選脈沖或連續(xù)模式。
- 單色儀： 焦距≥200mm，光柵刻線密度可選（如1200線/mm），分辨率≤0.1nm。
- 探測(cè)系統(tǒng)： 光電倍增管（PMT）或CCD探測(cè)器，制冷型可選，靈敏度高。
- 真空系統(tǒng)： 極限真空度≤1×10-3 Pa，配備分子泵與機(jī)械泵組。
- 樣品室： 真空密封，帶樣品架及多維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，可選溫控附件。
- 控制系統(tǒng)： 計(jì)算機(jī)全自動(dòng)控制，配套光譜采集與分析軟件。
- 應(yīng)用領(lǐng)域： PDP熒光粉、光學(xué)材料、真空紫外發(fā)光器件等測(cè)試。
使用注意事項(xiàng)
- 真空操作： 必須嚴(yán)格按照規(guī)程抽真空與破空，防止窗口鏡片結(jié)霧或污染。
- 光源保護(hù)： 氘燈等紫外光源需預(yù)熱與冷卻，避免頻繁開關(guān)以延長壽命。
- 探測(cè)器防護(hù)： 避免強(qiáng)光直接照射探測(cè)器，尤其是CCD在非真空紫外波段需加濾光保護(hù)。
- 樣品處理： 樣品需干燥、無揮發(fā)物，防止污染真空室與光學(xué)部件。
- 維護(hù)要求： 定期清潔光學(xué)窗口，檢查密封圈，校準(zhǔn)波長與強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)。
- 安全警告： 真空紫外輻射對(duì)眼睛與皮膚有害，操作時(shí)需確保屏蔽完全，避免直視光束。
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