II型 磁粉探傷參考試塊

上海雙旭II型磁粉探傷參考試塊

產(chǎn)品概述

上海雙旭II型磁粉探傷參考試塊是用于評(píng)估和校準(zhǔn)磁粉探傷系統(tǒng)綜合性能（包括設(shè)備、磁粉、磁懸液及操作工藝）的標(biāo)準(zhǔn)器具。它通過(guò)人工缺陷的顯示情況，直觀驗(yàn)證探傷靈敏度是否符合標(biāo)準(zhǔn)要求。

產(chǎn)品參數(shù)

• 型號(hào)：II型（A型試片）
• 材料：低碳鋼
• 厚度：通常為50μm或100μm
• 人工缺陷形式：圓形刻槽（常見(jiàn)規(guī)格如：Φ1.0mm、Φ1.5mm、Φ2.0mm等）
• 試片尺寸：通常為長(zhǎng)方形（例如：70mm × 20mm）
• 主要功能：校驗(yàn)磁粉探傷系統(tǒng)的靈敏度與操作有效性
• 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：通常符合JB/T 6065《無(wú)損檢測(cè) 磁粉檢測(cè)用試片》等相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

使用注意事項(xiàng)

• 粘貼要求：使用前需將試片表面（無(wú)缺陷面）及工件被測(cè)區(qū)域清理干凈，確保試片與工件表面緊密貼合，無(wú)間隙。通常使用透明膠帶固定，注意膠帶不得覆蓋缺陷區(qū)域。
• 磁化方向：應(yīng)使磁化電流方向與試片上人工缺陷的延伸方向大致垂直，以獲得最清晰的磁痕顯示。
• 靈敏度判斷：在規(guī)定的磁化規(guī)范下，試片上的人工缺陷應(yīng)能清晰、完整地顯示磁痕。若顯示不清晰，則需檢查磁化電流、磁懸液濃度、操作方法等系統(tǒng)參數(shù)。
• 保養(yǎng)維護(hù)：使用后應(yīng)清潔試片表面殘留的磁粉，干燥后妥善保存，防止折皺、銹蝕或機(jī)械損傷。輕微銹蝕可用砂紙輕輕打磨去除。
• 定期更換：試片為消耗品，出現(xiàn)嚴(yán)重變形、破損或因反復(fù)使用導(dǎo)致靈敏度下降時(shí)，應(yīng)及時(shí)更換。
• 環(huán)境條件：避免在強(qiáng)磁場(chǎng)、腐蝕性氣體或極端溫濕度環(huán)境中使用和存放。
• 系統(tǒng)校驗(yàn)：該試塊主要用于工藝驗(yàn)證，不能替代對(duì)磁粉探傷設(shè)備的周期性全面檢定。

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