ATG3000 系列功率信號(hào)源
上海雙旭 ATG3000 系列功率信號(hào)源
產(chǎn)品定位:ATG3000 系列為上海雙旭推出的高精度、多通道可編程功率信號(hào)源,面向射頻/微波功率測(cè)試、通信系統(tǒng)研發(fā)、功率放大器特性評(píng)估及產(chǎn)線自動(dòng)化校準(zhǔn)等場(chǎng)景,兼顧實(shí)驗(yàn)室精度與工業(yè)級(jí)穩(wěn)定性。
一、產(chǎn)品參數(shù)(以典型型號(hào) ATG3000A/B/C 為例)
- 頻率范圍:10 MHz – 6 GHz(可擴(kuò)展至 8 GHz,依子型號(hào)差異)
- 輸出功率范圍:-120 dBm – +20 dBm(連續(xù)可調(diào),部分型號(hào)支持脈沖模式峰值達(dá) +27 dBm)
- 功率分辨率:0.1 dB(步進(jìn))/ 最小 0.01 dB(高精度模式)
- 頻率分辨率:≤ 1 Hz
- 相位噪聲:< -110 dBc/Hz @ 1 GHz 偏移 10 kHz;< -95 dBc/Hz @ 1 GHz 偏移 100 Hz
- 切換速度:頻率/功率切換 ≤ 200 μs(典型值),支持列表模式高速掃描
- 輸出阻抗:50 Ω(標(biāo)稱),駐波比 ≤ 1.5:1(全頻段)
- 諧波抑制:≥ 50 dBc(≤ 3 GHz);≥ 40 dBc(> 3 GHz)
- 雜散抑制:≥ 60 dBc(偏離載波 ≥ 1 MHz)
- 調(diào)制能力:內(nèi)置 AM/FM/ΦM/Pulse/IQ 調(diào)制;支持外部 IQ 基帶輸入(帶寬最高 100 MHz)
- 接口與控制:LAN (LXI)、USB、GPIB、RS-232;SCPI 指令兼容
- 電源要求:AC 100–240 V, 50/60 Hz, 最大功耗 150 VA
- 工作溫度:0°C – +50°C;存儲(chǔ)溫度:-20°C – +70°C
- 外形尺寸/重量:約 106 mm × 425 mm × 450 mm / 8.5 kg(標(biāo)準(zhǔn)機(jī)架安裝)
二、功能特點(diǎn)
采用直接數(shù)字合成(DDS)與高穩(wěn)鎖相環(huán)(PLL)混合架構(gòu),實(shí)現(xiàn)寬頻帶低相噪輸出;內(nèi)置功率平坦度補(bǔ)償算法,全頻段功率誤差 ≤ ±0.5 dB;支持多段波形序列編程與觸發(fā)同步,適配復(fù)雜測(cè)試流程;具備過(guò)功率/過(guò)溫/駐波異常保護(hù),自動(dòng)降功率或關(guān)斷輸出。
支持 SCPI 遠(yuǎn)程控制與 LabVIEW、Python 等驅(qū)動(dòng),便于集成至 ATE 系統(tǒng);配備大尺寸彩色 LCD 與多功能旋鈕,本地操作直觀高效。
三、使用注意事項(xiàng)
- 輸出端必須匹配 50 Ω 負(fù)載,嚴(yán)禁開(kāi)路或短路運(yùn)行,否則會(huì)損壞功放模塊并觸發(fā)保護(hù)關(guān)機(jī)。
- 在高壓或大功率模式下啟動(dòng)前,確認(rèn)負(fù)載額定功率大于信號(hào)源設(shè)定輸出功率,避免燒毀被測(cè)件或設(shè)備。
- 功率設(shè)置接近上限時(shí),應(yīng)逐步提升并監(jiān)測(cè)駐波比與反射功率,防止瞬時(shí)失配造成功放過(guò)熱。
- 高頻段使用時(shí)注意屏蔽與接地,遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁干擾源,減少雜散與相位抖動(dòng)。
- 調(diào)制工作時(shí)確保基帶信號(hào)幅度不超過(guò)額定輸入范圍,防止非線性失真或內(nèi)部 ADC 過(guò)載。
- 長(zhǎng)期不用應(yīng)斷開(kāi)電源,置于干燥潔凈環(huán)境,定期開(kāi)機(jī)通電驅(qū)潮。
- 固件升級(jí)須使用官方提供的工具與文件,禁止中斷升級(jí)過(guò)程,以免變磚。
- 清潔機(jī)箱表面僅可用干燥軟布,禁用溶劑類清潔劑,防止?jié)B入面板縫隙損傷電路。
- 出現(xiàn)保護(hù)告警應(yīng)先排查負(fù)載與連接狀態(tài),再?gòu)?fù)位設(shè)備,反復(fù)觸發(fā)保護(hù)需聯(lián)系廠家檢修。
四、典型應(yīng)用
適用于射頻功率放大器線性度與效率測(cè)試、雷達(dá)/通信發(fā)射鏈路校準(zhǔn)、EMC 功率注入試驗(yàn)、無(wú)線終端產(chǎn)線綜測(cè)、科研用寬帶信號(hào)激勵(lì)等。其高分辨率與快速切換特性可顯著提升測(cè)試效率與數(shù)據(jù)一致性。 |