電纜0.1Hz耐壓及超低頻介損老化測試系統(tǒng) KEP VLF-60TD
上海雙旭電纜0.1Hz耐壓及超低頻介損老化測試系統(tǒng) KEP VLF-60TD
產品概述
KEP VLF-60TD為上海雙旭電纜針對中高壓XLPE、EPR等電力電纜設計的0.1Hz耐壓與超低頻介損老化測試設備,采用超低頻正弦波(0.1Hz)輸出,兼顧高電壓施加與介損測量功能,用于評估電纜絕緣老化狀態(tài)、發(fā)現(xiàn)潛在缺陷并執(zhí)行型式試驗與預防性維護。
產品參數(shù)
- 輸出電壓范圍:0~60kV(峰值),正負對稱輸出
- 輸出頻率:0.1Hz(標準正弦波)
- 輸出波形失真度:≤3%
- 最大輸出電流:40mA(有效值)
- 介損測量精度:±(0.5%讀數(shù)+0.001)
- 介損測量范圍:0.01%~10%
- 耐壓試驗時間設定:1min~99h可調
- 老化試驗模式:連續(xù)/階梯升壓,可編程多段曲線
- 電壓穩(wěn)定度:±1%
- 顯示與控制:7寸彩色觸摸屏,實時顯示電壓、電流、介損、波形
- 通訊接口:RS485、USB、以太網(wǎng),支持遠程監(jiān)控與數(shù)據(jù)導出
- 安全保護:過壓、過流、過溫、擊穿快速切斷,接地檢測聯(lián)鎖
- 電源要求:AC 220V±10%,50Hz,功率≤3kVA
- 工作環(huán)境:溫度 -10℃~+50℃,濕度 ≤85%RH(無凝露)
- 尺寸/重量:約700×500×1200mm / 約90kg
主要功能
具備0.1Hz正弦波高壓耐壓試驗、超低頻介損在線測量、絕緣老化加速試驗三大核心能力;可自動記錄試驗曲線與數(shù)據(jù),生成PDF/Excel報告;支持歷史數(shù)據(jù)比對分析,定位絕緣薄弱點;內置多種標準試驗程序(IEC 60502、IEEE 400系列等)。
使用注意事項
- 試驗前必須確認電纜已可靠接地且與其他設備隔離,防止感應電危害。
- 升壓過程須緩慢并全程監(jiān)控電壓、電流及介損變化,異常立即停機。
- 嚴禁在潮濕、易燃易爆環(huán)境或帶電導體裸露情況下操作。
- 儀器輸出端及電纜接頭需保持干燥清潔,避免爬電擊穿。
- 介損測試時電纜不可有外部干擾源(如大功率變頻器),否則數(shù)據(jù)失真。
- 耐壓試驗時間按標準設定,禁止隨意延長以免損傷絕緣。
- 每次試驗結束應執(zhí)行放電操作,高壓端通過專用放電棒充分放電至零電位后方可接觸。
- 定期校準電壓、介損測量模塊,保證精度;內部冷卻風扇濾網(wǎng)需清潔防過熱。
- 非專業(yè)人員不得擅自拆解機箱或修改內部參數(shù)設置。
- 運輸與存儲避免強烈沖擊、淋雨及高溫環(huán)境。
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