電纜0.1Hz耐壓及超低頻介損老化測試系統(tǒng) KEP VLF-60TD
上海雙旭電纜0.1Hz耐壓及超低頻介損老化測試系統(tǒng) KEP VLF-60TD
產品概述
KEP VLF-60TD為上海雙旭電纜針對中高壓XLPE、EPR等電力電纜設計的0.1Hz耐壓與超低頻介損老化測試設備，采用超低頻正弦波（0.1Hz）輸出，兼顧高電壓施加與介損測量功能，用于評估電纜絕緣老化狀態(tài)、發(fā)現(xiàn)潛在缺陷并執(zhí)行型式試驗與預防性維護。
產品參數(shù)
- 輸出電壓范圍：0~60kV（峰值），正負對稱輸出
- 輸出頻率：0.1Hz（標準正弦波）
- 輸出波形失真度：≤3%
- 最大輸出電流：40mA（有效值）
- 介損測量精度：±(0.5%讀數(shù)+0.001)
- 介損測量范圍：0.01%~10%
- 耐壓試驗時間設定：1min~99h可調
- 老化試驗模式：連續(xù)/階梯升壓，可編程多段曲線
- 電壓穩(wěn)定度：±1%
- 顯示與控制：7寸彩色觸摸屏，實時顯示電壓、電流、介損、波形
- 通訊接口：RS485、USB、以太網(wǎng)，支持遠程監(jiān)控與數(shù)據(jù)導出
- 安全保護：過壓、過流、過溫、擊穿快速切斷，接地檢測聯(lián)鎖
- 電源要求：AC 220V±10%，50Hz，功率≤3kVA
- 工作環(huán)境：溫度 -10℃~+50℃，濕度 ≤85%RH（無凝露）
- 尺寸/重量：約700×500×1200mm / 約90kg
主要功能
具備0.1Hz正弦波高壓耐壓試驗、超低頻介損在線測量、絕緣老化加速試驗三大核心能力；可自動記錄試驗曲線與數(shù)據(jù)，生成PDF/Excel報告；支持歷史數(shù)據(jù)比對分析，定位絕緣薄弱點；內置多種標準試驗程序（IEC 60502、IEEE 400系列等）。
使用注意事項
- 試驗前必須確認電纜已可靠接地且與其他設備隔離，防止感應電危害。
- 升壓過程須緩慢并全程監(jiān)控電壓、電流及介損變化，異常立即停機。
- 嚴禁在潮濕、易燃易爆環(huán)境或帶電導體裸露情況下操作。
- 儀器輸出端及電纜接頭需保持干燥清潔，避免爬電擊穿。
- 介損測試時電纜不可有外部干擾源（如大功率變頻器），否則數(shù)據(jù)失真。
- 耐壓試驗時間按標準設定，禁止隨意延長以免損傷絕緣。
- 每次試驗結束應執(zhí)行放電操作，高壓端通過專用放電棒充分放電至零電位后方可接觸。
- 定期校準電壓、介損測量模塊，保證精度；內部冷卻風扇濾網(wǎng)需清潔防過熱。
- 非專業(yè)人員不得擅自拆解機箱或修改內部參數(shù)設置。
- 運輸與存儲避免強烈沖擊、淋雨及高溫環(huán)境。
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